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超高速高低溫氣流沖擊試驗機可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件，將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統冷熱沖擊試驗箱相比，溫變變化沖擊速率更快。

高低溫熱流儀是將被控制溫度的壓縮機空氣從氣嘴噴射出來，僅僅只需要數秒鐘的時間就可以達到一個溫度試驗必須的環境，與普通的高低溫沖擊試驗箱相比較，大大的縮短了試驗時間，提高生產效率。

熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）、電子行業等進行IC 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。